產(chǎn)品中心
PRODUCTS CENTER
當(dāng)前位置：首頁(yè)
產(chǎn)品中心少子壽命測(cè)試儀（MDP）單晶和多晶硅片壽命測(cè)量?jī)x(MDPmap)
產(chǎn)品分類(lèi)
MDPmap單晶和多晶硅片壽命測(cè)量?jī)x被設(shè)計(jì)成一個(gè)緊湊的臺(tái)式非接觸電學(xué)表征工具，用于離線(xiàn)生產(chǎn)控制或研發(fā)，在穩(wěn)態(tài)或短脈沖激勵(lì)（μ-PCD）下，在一個(gè)寬的注入范圍內(nèi)測(cè)量參數(shù)，如載流子壽命、光導(dǎo)率、電阻率和缺陷信息。自動(dòng)化的樣品識(shí)別和參數(shù)設(shè)置允許輕松適應(yīng)各種不同的樣品，包括外延層和經(jīng)過(guò)不同制備階段的晶圓，從原生晶圓到高達(dá)95%的金屬化晶圓。
更新時(shí)間：2025-04-24
產(chǎn)品型號(hào)：MDPmap-1
瀏覽量：2137
掃一掃，關(guān)注公眾號(hào)
服務(wù)電話(huà)：
021-34685181
上海市松江區(qū)千帆路288弄G60科創(chuàng)云廊3號(hào)樓602室
wei.zhu@shuyunsh.com
服務(wù)熱線(xiàn)：
021-34685181
17621138977
相關(guān)文章